FIB-SEM سری Crossbeam ZEISS ترکیبی از عملکرد تصویربرداری و تجزیه و تحلیل عالی میکروسکوپ الکترونی پرتاب میدان (FE-SEM) و عملکرد عالی پردازش نسل جدید پرتو یون متمرکز (FIB) است. چه در آزمایشگاه های علمی و چه در آزمایشگاه های صنعتی، شما می توانید چند کاربر همزمان را در یک دستگاه انجام دهید. به لطف مفهوم طراحی پلتفرم ماژولار سری Crossbeam ZEISS، شما می توانید سیستم ابزار خود را در هر زمان با توجه به تغییرات نیازهای خود ارتقاء دهید. در هنگام پردازش، تصویربرداری یا تجزیه و تحلیل بازسازی سه بعدی، سری Crosssbeam به طور قابل توجهی تجربه برنامه شما را بهبود می بخشد.

با استفاده از سیستم نوری الکترونیکی Gemini، شما می توانید اطلاعات نمونه واقعی را از تصاویر SEM با وضوح بالا استخراج کنید

با استفاده از آینه جدید Ion-sculptor FIB و روش جدید برای پردازش نمونه، می توانید کیفیت نمونه را به حداکثر برسانید، آسیب نمونه را کاهش دهید و در عین حال فرایند آزمایشی را به طور قابل توجهی تسریع کنید.

با استفاده از ویژگی ولتاژ پایین Ion-sculptor FIB، شما می توانید نمونه های TEM فوق العاده نازک را آماده کنید و در عین حال آسیب های غیر کریستالی را به حد بسیار پایین کاهش دهید.

قابلیت تغییر فشار هوا با Crossbeam 340

یا با استفاده از Crossbeam 550 برای مشخصات سخت تر، انبار بزرگ حتی گزینه های بیشتری را برای شما فراهم می کند

　　فرآیند آماده سازی نمونه EM

مراحل زیر را دنبال کنید تا نمونه سازی با کیفیت بالا و کارایی بالا انجام شود.

Crossbeam مجموعه ای از راه حل هایی را برای آماده سازی نمونه های TEM بسیار نازک و با کیفیت بالا ارائه می دهد که شما می توانید نمونه ها را به طور موثر آماده کنید و تجزیه و تحلیل الگوهای تصویربرداری انتقال را در TEM یا STEM اجرا کنید.

موقعیت خودکار – به راحتی در مناطق مورد علاقه (ROI) حرکت کنید

مناطق مورد علاقه (ROI) را پیدا کنید

موقعیت نمونه با استفاده از دوربین ناوبری اتاق تبادل نمونه

رابط کاربری یکپارچه به شما اجازه می دهد تا به راحتی به ROI

تصویر گسترده و بدون تحریف در SEM

2- نمونه سازی خودکار - آماده سازی نمونه های نازک از مواد بدن شروع می شود

شما می توانید یک نمونه را با سه مرحله ساده آماده کنید: ASP (آماده سازی خودکار نمونه)

پارامترهای تعریف شامل اصلاح دریفت، رسوب سطحی و برش خشن و ظریف

سیستم نوری یونی آینه FIB جریان کار بسیار بالایی را تضمین می کند

صادرات پارامترها به عنوان یک کپی، و سپس امکان تکرار عملیات برای آماده سازی دسته ای

3. انتقال آسان - برش نمونه، مکانیزه انتقال

وارد کردن دستگاه های رباتیک، جوشکاری نمونه های نازک روی سوزن دستگاه های رباتیک

برش نمونه نازک از بخش متصل به ماتریس نمونه برای جداسازی آن

سپس صفحات نازک استخراج می شوند و به دروازه TEM منتقل می شوند.

کاهش نمونه - یک گام مهم برای دریافت نمونه های TEM با کیفیت بالا

این ابزار به کاربر اجازه می دهد تا ضخامت نمونه را در زمان واقعی نظارت کند و در نهایت به ضخامت مورد نیاز برسد.

شما می توانید ضخامت ورق را با جمع آوری سیگنال از دو آشکارساز به طور همزمان تعیین کنید، از یک طرف ضخامت نهایی را با تکرار بالا از طریق آشکارساز SE بدست آورید و از طرف دیگر کیفیت سطح را از طریق آشکارساز Inlens SE کنترل کنید.

آماده نمونه با کیفیت بالا و کاهش آسیب غیر کریستالی به نقطه ای قابل نادیده گرفتن